iR-2反射率測量儀

可精確測量目前分光光度計無法測量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率，不會與樣品背面的反射光產(chǎn)生干涉；是測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)；實現(xiàn)非破壞性測量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標(biāo)準(zhǔn)。

iR-2反射率測量儀：

1消除背面反射光

采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。 不必進行背面的防反射處理，可正確測定弧度鏡片表面的反射率。

2可測定微小區(qū)域的反射率（消除曲面反射測試帶來的誤差）?

用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

3測定時間短?

由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構(gòu)，可以進行快速、高重復(fù)性的測定。

4支持XY色度圖、L*a*b*測定?

可以依據(jù)分光測色法，通過分光反射率測定物體顏色；比較色差。更真實反映材料主觀感受色彩。

5綜合對比反射均勻度測量

提供6組數(shù)據(jù)對比，可在測試區(qū)域內(nèi)任意取點測量，分析鏡片各部分反射均勻性。